Публикации Измерительный комплекс для проверки ПЛИС Xilinx 12_114Скачать Входной контроль микросхем Xilinx Virtex‑7 с помощью периферийного сканирования Nikishin-94-98Скачать Применение и развитие технологий цифровой СВЧ-связи 20_253-1Скачать
